{"search_session":{},"preferences":{"l":"en","queryLanguage":"en"},"patentId":"098-145-827-597-785","frontPageModel":{"patentViewModel":{"ref":{"entityRefId":"098-145-827-597-785","entityRefType":"PATENT"},"entityMetadata":{"linkedIds":{"empty":true},"tags":[],"collections":[{"id":22736,"type":"PATENT","title":"Citing Helmholtz publications","description":"Patent documents citing scholarly work of Helmholtz","access":"OPEN_ACCESS","displayAvatar":true,"attested":false,"itemCount":34856,"tags":[],"user":{"id":233682368,"username":"tech","firstName":"The Lens","lastName":"Team","created":"2017-08-06T20:11:49.000Z","displayName":"The Lens Team","profilePictureKey":"lens/users/15eac2a0-031d-4923-92cb-a162e1cb2bbb/profile-picture","preferences":"{\"beta\":true}","accountType":"PERSONAL","isOauthOnly":false},"notes":[],"sharedType":"PUBLISHED","hasLinkedSavedQueries":false,"savedQueries":[],"created":"2017-08-07T04:45:49Z","updated":"2017-08-07T04:45:49Z","lastEventDate":"2017-08-07T04:45:49Z"},{"id":22827,"type":"PATENT","title":"Citing CAS publications","description":"Patent documents citing scholarly work of CAS","access":"OPEN_ACCESS","displayAvatar":true,"attested":false,"itemCount":38692,"tags":[],"user":{"id":233682368,"username":"tech","firstName":"The Lens","lastName":"Team","created":"2017-08-06T20:11:49.000Z","displayName":"The Lens Team","profilePictureKey":"lens/users/15eac2a0-031d-4923-92cb-a162e1cb2bbb/profile-picture","preferences":"{\"beta\":true}","accountType":"PERSONAL","isOauthOnly":false},"notes":[],"sharedType":"PUBLISHED","hasLinkedSavedQueries":false,"savedQueries":[],"created":"2017-08-07T05:22:59Z","updated":"2017-08-07T05:22:59Z","lastEventDate":"2017-08-07T05:22:59Z"},{"id":22842,"type":"PATENT","title":"Citing Univ Toronto publications","description":"Patent documents citing scholarly work of Univ Toronto","access":"OPEN_ACCESS","displayAvatar":true,"attested":false,"itemCount":65159,"tags":[],"user":{"id":233682368,"username":"tech","firstName":"The Lens","lastName":"Team","created":"2017-08-06T20:11:49.000Z","displayName":"The Lens Team","profilePictureKey":"lens/users/15eac2a0-031d-4923-92cb-a162e1cb2bbb/profile-picture","preferences":"{\"beta\":true}","accountType":"PERSONAL","isOauthOnly":false},"notes":[],"sharedType":"PUBLISHED","hasLinkedSavedQueries":false,"savedQueries":[],"created":"2017-08-07T05:27:52Z","updated":"2017-08-07T05:27:52Z","lastEventDate":"2017-08-07T05:27:52Z"},{"id":22884,"type":"PATENT","title":"Citing Max Planck Society publications","description":"Patent documents citing scholarly work of Max Planck Society","access":"OPEN_ACCESS","displayAvatar":true,"attested":false,"itemCount":71114,"tags":[],"user":{"id":233682368,"username":"tech","firstName":"The Lens","lastName":"Team","created":"2017-08-06T20:11:49.000Z","displayName":"The Lens Team","profilePictureKey":"lens/users/15eac2a0-031d-4923-92cb-a162e1cb2bbb/profile-picture","preferences":"{\"beta\":true}","accountType":"PERSONAL","isOauthOnly":false},"notes":[],"sharedType":"PUBLISHED","hasLinkedSavedQueries":false,"savedQueries":[],"created":"2017-08-07T05:50:10Z","updated":"2017-08-07T05:50:10Z","lastEventDate":"2017-08-07T05:50:10Z"},{"id":188941,"type":"PATENT","title":"Patentes 20 años","description":"Todas las patentes en los ultimos 20años","access":"OPEN_ACCESS","displayAvatar":true,"attested":false,"itemCount":50000,"tags":[],"user":{"id":356015324,"username":"luis.vargas","firstName":"Luis Miguel","lastName":"Vargas Largo","created":"2020-06-06T12:35:15.000Z","displayName":"Luis Miguel Vargas Largo","accountType":"PERSONAL","isOauthOnly":true},"notes":[],"sharedType":"PUBLISHED","hasLinkedSavedQueries":true,"savedQueries":[],"created":"2021-03-07T15:12:38Z","updated":"2021-03-07T15:12:49Z","lastEventDate":"2021-03-07T15:12:49Z"},{"id":198806,"type":"PATENT","title":"Patents Citing IoPP Scholarly Works","description":"Patents Citing IoPP Scholarly Works","access":"OPEN_ACCESS","displayAvatar":true,"attested":false,"itemCount":109932,"tags":[],"user":{"id":150912620,"username":"Aaron","firstName":"Aaron","lastName":"Ballagh","created":"2016-04-19T11:31:15.000Z","displayName":"Aaron Ballagh","profilePictureKey":"lens/avatar/4c7ebafd-a645-4928-80f0-86226d3aba10","avatar":{"id":1420,"key":"lens/avatar/4c7ebafd-a645-4928-80f0-86226d3aba10"},"preferences":"{\"fontSize\":100,\"beta\":true,\"usage\":\"professional\"}","accountType":"PERSONAL","isOauthOnly":false},"notes":[],"sharedType":"PUBLISHED","hasLinkedSavedQueries":true,"savedQueries":[],"created":"2022-02-09T01:07:51Z","updated":"2023-11-16T00:25:08Z","lastEventDate":"2023-11-16T00:25:08Z"},{"id":198808,"type":"PATENT","title":"Patents Citing IoPP Scholarly Works","description":"Patents citing IoPP scholarly works, published since 2000","access":"OPEN_ACCESS","displayAvatar":true,"avatar":{"id":1838,"key":"lens/avatar/8d1f2fad-4d53-4ca3-a63b-3eee3b89d562"},"attested":false,"itemCount":97168,"tags":[],"user":{"id":150912620,"username":"Aaron","firstName":"Aaron","lastName":"Ballagh","created":"2016-04-19T11:31:15.000Z","displayName":"Aaron Ballagh","profilePictureKey":"lens/avatar/4c7ebafd-a645-4928-80f0-86226d3aba10","avatar":{"id":1420,"key":"lens/avatar/4c7ebafd-a645-4928-80f0-86226d3aba10"},"preferences":"{\"fontSize\":100,\"beta\":true,\"usage\":\"professional\"}","accountType":"PERSONAL","isOauthOnly":false},"notes":[],"sharedType":"PUBLISHED","hasLinkedSavedQueries":true,"savedQueries":[],"created":"2022-02-09T02:47:22Z","updated":"2023-11-16T00:26:26Z","lastEventDate":"2023-11-16T00:26:26Z"},{"id":203484,"type":"PATENT","title":"20180101之前的cas专利","description":"","access":"OPEN_ACCESS","displayAvatar":true,"attested":false,"itemCount":44857,"tags":[],"user":{"id":467477814,"username":"zhoulevi","firstName":"levi","lastName":"zhou","created":"2022-08-24T06:34:04.000Z","displayName":"Levi Zhou","preferences":"{}","accountType":"PERSONAL","isOauthOnly":false},"notes":[],"sharedType":"PUBLISHED","hasLinkedSavedQueries":true,"savedQueries":[],"created":"2022-08-24T08:35:18Z","updated":"2022-08-24T08:35:29Z","lastEventDate":"2022-08-24T08:35:29Z"}],"notes":[],"inventorships":[],"privateCollections":[],"publicCollections":[{"id":22736,"type":"PATENT","title":"Citing Helmholtz publications","description":"Patent documents citing scholarly work of Helmholtz","access":"OPEN_ACCESS","displayAvatar":true,"attested":false,"itemCount":34856,"tags":[],"user":{"id":233682368,"username":"tech","firstName":"The Lens","lastName":"Team","created":"2017-08-06T20:11:49.000Z","displayName":"The Lens Team","profilePictureKey":"lens/users/15eac2a0-031d-4923-92cb-a162e1cb2bbb/profile-picture","preferences":"{\"beta\":true}","accountType":"PERSONAL","isOauthOnly":false},"notes":[],"sharedType":"PUBLISHED","hasLinkedSavedQueries":false,"savedQueries":[],"created":"2017-08-07T04:45:49Z","updated":"2017-08-07T04:45:49Z","lastEventDate":"2017-08-07T04:45:49Z"},{"id":22827,"type":"PATENT","title":"Citing CAS publications","description":"Patent documents citing scholarly work of CAS","access":"OPEN_ACCESS","displayAvatar":true,"attested":false,"itemCount":38692,"tags":[],"user":{"id":233682368,"username":"tech","firstName":"The Lens","lastName":"Team","created":"2017-08-06T20:11:49.000Z","displayName":"The Lens Team","profilePictureKey":"lens/users/15eac2a0-031d-4923-92cb-a162e1cb2bbb/profile-picture","preferences":"{\"beta\":true}","accountType":"PERSONAL","isOauthOnly":false},"notes":[],"sharedType":"PUBLISHED","hasLinkedSavedQueries":false,"savedQueries":[],"created":"2017-08-07T05:22:59Z","updated":"2017-08-07T05:22:59Z","lastEventDate":"2017-08-07T05:22:59Z"},{"id":22842,"type":"PATENT","title":"Citing Univ Toronto publications","description":"Patent documents citing scholarly work of Univ Toronto","access":"OPEN_ACCESS","displayAvatar":true,"attested":false,"itemCount":65159,"tags":[],"user":{"id":233682368,"username":"tech","firstName":"The Lens","lastName":"Team","created":"2017-08-06T20:11:49.000Z","displayName":"The Lens Team","profilePictureKey":"lens/users/15eac2a0-031d-4923-92cb-a162e1cb2bbb/profile-picture","preferences":"{\"beta\":true}","accountType":"PERSONAL","isOauthOnly":false},"notes":[],"sharedType":"PUBLISHED","hasLinkedSavedQueries":false,"savedQueries":[],"created":"2017-08-07T05:27:52Z","updated":"2017-08-07T05:27:52Z","lastEventDate":"2017-08-07T05:27:52Z"},{"id":22884,"type":"PATENT","title":"Citing Max Planck Society publications","description":"Patent documents citing scholarly work of Max Planck Society","access":"OPEN_ACCESS","displayAvatar":true,"attested":false,"itemCount":71114,"tags":[],"user":{"id":233682368,"username":"tech","firstName":"The Lens","lastName":"Team","created":"2017-08-06T20:11:49.000Z","displayName":"The Lens Team","profilePictureKey":"lens/users/15eac2a0-031d-4923-92cb-a162e1cb2bbb/profile-picture","preferences":"{\"beta\":true}","accountType":"PERSONAL","isOauthOnly":false},"notes":[],"sharedType":"PUBLISHED","hasLinkedSavedQueries":false,"savedQueries":[],"created":"2017-08-07T05:50:10Z","updated":"2017-08-07T05:50:10Z","lastEventDate":"2017-08-07T05:50:10Z"},{"id":188941,"type":"PATENT","title":"Patentes 20 años","description":"Todas las patentes en los ultimos 20años","access":"OPEN_ACCESS","displayAvatar":true,"attested":false,"itemCount":50000,"tags":[],"user":{"id":356015324,"username":"luis.vargas","firstName":"Luis Miguel","lastName":"Vargas Largo","created":"2020-06-06T12:35:15.000Z","displayName":"Luis Miguel Vargas Largo","accountType":"PERSONAL","isOauthOnly":true},"notes":[],"sharedType":"PUBLISHED","hasLinkedSavedQueries":true,"savedQueries":[],"created":"2021-03-07T15:12:38Z","updated":"2021-03-07T15:12:49Z","lastEventDate":"2021-03-07T15:12:49Z"},{"id":198806,"type":"PATENT","title":"Patents Citing IoPP Scholarly Works","description":"Patents Citing IoPP Scholarly Works","access":"OPEN_ACCESS","displayAvatar":true,"attested":false,"itemCount":109932,"tags":[],"user":{"id":150912620,"username":"Aaron","firstName":"Aaron","lastName":"Ballagh","created":"2016-04-19T11:31:15.000Z","displayName":"Aaron Ballagh","profilePictureKey":"lens/avatar/4c7ebafd-a645-4928-80f0-86226d3aba10","avatar":{"id":1420,"key":"lens/avatar/4c7ebafd-a645-4928-80f0-86226d3aba10"},"preferences":"{\"fontSize\":100,\"beta\":true,\"usage\":\"professional\"}","accountType":"PERSONAL","isOauthOnly":false},"notes":[],"sharedType":"PUBLISHED","hasLinkedSavedQueries":true,"savedQueries":[],"created":"2022-02-09T01:07:51Z","updated":"2023-11-16T00:25:08Z","lastEventDate":"2023-11-16T00:25:08Z"},{"id":198808,"type":"PATENT","title":"Patents Citing IoPP Scholarly Works","description":"Patents citing IoPP scholarly works, published since 2000","access":"OPEN_ACCESS","displayAvatar":true,"avatar":{"id":1838,"key":"lens/avatar/8d1f2fad-4d53-4ca3-a63b-3eee3b89d562"},"attested":false,"itemCount":97168,"tags":[],"user":{"id":150912620,"username":"Aaron","firstName":"Aaron","lastName":"Ballagh","created":"2016-04-19T11:31:15.000Z","displayName":"Aaron Ballagh","profilePictureKey":"lens/avatar/4c7ebafd-a645-4928-80f0-86226d3aba10","avatar":{"id":1420,"key":"lens/avatar/4c7ebafd-a645-4928-80f0-86226d3aba10"},"preferences":"{\"fontSize\":100,\"beta\":true,\"usage\":\"professional\"}","accountType":"PERSONAL","isOauthOnly":false},"notes":[],"sharedType":"PUBLISHED","hasLinkedSavedQueries":true,"savedQueries":[],"created":"2022-02-09T02:47:22Z","updated":"2023-11-16T00:26:26Z","lastEventDate":"2023-11-16T00:26:26Z"},{"id":203484,"type":"PATENT","title":"20180101之前的cas专利","description":"","access":"OPEN_ACCESS","displayAvatar":true,"attested":false,"itemCount":44857,"tags":[],"user":{"id":467477814,"username":"zhoulevi","firstName":"levi","lastName":"zhou","created":"2022-08-24T06:34:04.000Z","displayName":"Levi Zhou","preferences":"{}","accountType":"PERSONAL","isOauthOnly":false},"notes":[],"sharedType":"PUBLISHED","hasLinkedSavedQueries":true,"savedQueries":[],"created":"2022-08-24T08:35:18Z","updated":"2022-08-24T08:35:29Z","lastEventDate":"2022-08-24T08:35:29Z"}],"privateNotes":[],"landscapeCollections":[],"landscapeNotes":[]},"document":{"record_lens_id":"098-145-827-597-785","lens_id":["098-145-827-597-785","167-898-023-198-436"],"doc_key":"WO_2008107084_A1_20080912","created":"2016-01-15T14:36:11.997","docdb_id":118721,"lens_internal":{"earliest_lens_id_created_time":"2016-01-15T14:36:11.997","last_modified":"2024-03-25T10:28:39.833","legacy_pub_key":"WO_2008_107084_A1","has_doc_lang":true,"has_biblio_lang":true,"has_all_title_lang":true,"has_all_abstract_lang":true,"has_all_claims_lang":true,"has_description_lang":true},"jurisdiction":"WO","doc_number":"2008107084","kind":"A1","date_published":"2008-09-12","year_published":2008,"ids":["WO_2008_107084_A1","098-145-827-597-785","167-898-023-198-436","WO_2008107084_A1_20080912","WO","2008107084","A1","WO2008107084A1","WO2008107084","2008107084A1"],"lang":"de","publication_type":"PATENT_APPLICATION","application_reference":{"jurisdiction":"EP","doc_number":"2008001454","kind":"W","date":"2008-02-23"},"priority_claim":[{"jurisdiction":"DE","doc_number":"102007010297","kind":"A","date":"2007-03-02"}],"priority_claim.source":"DOCDB","earliest_priority_claim_date":"2007-03-02","title":{"de":[{"text":"FELDEMISSIONSQUELLE FÜR ELEKTRONEN ALS FELDEMISSIONSKATHODE","lang":"de","source":"DOCDB","data_format":"DOCDBA"}],"en":[{"text":"FIELD EMISSION SOURCE FOR ELECTRONS AS A FIELD EMISSION CATHODE","lang":"en","source":"DOCDB","data_format":"DOCDBA"}],"fr":[{"text":"SOURCE D'ÉMISSION DE CHAMP D'ÉLECTRONS CONÇUE EN TANT QUE CATHODE D'ÉMISSION DE CHAMP","lang":"fr","source":"DOCDB","data_format":"DOCDBA"}]},"title_lang":["de","en","fr"],"has_title":true,"applicant":[{"name":"SCHWERIONENFORSCH GMBH","residence":"DE","sequence":1,"app_type":"applicant"},{"name":"TRAUTMANN CHRISTINA","residence":"DE","sequence":2,"app_type":"applicant"},{"name":"BLAUM KLAUS","residence":"DE","sequence":3,"app_type":"applicant"},{"name":"QUINT WOLFGANG","residence":"DE","sequence":4,"app_type":"applicant"},{"name":"SCHABINGER BIRGIT","residence":"DE","sequence":5,"app_type":"applicant"},{"name":"ALONSO JOSEBA","residence":"DE","sequence":6,"app_type":"applicant"},{"name":"ULMER STEFAN","residence":"DE","sequence":7,"app_type":"applicant"},{"name":"MAURER FLORIAN","residence":"DE","sequence":8,"app_type":"applicant"},{"name":"BROETZ JOACHIM","residence":"DE","sequence":9,"app_type":"applicant"}],"applicant_count":9,"has_applicant":true,"inventor":[{"name":"TRAUTMANN CHRISTINA","residence":"DE","sequence":1},{"name":"BLAUM KLAUS","residence":"DE","sequence":2},{"name":"QUINT WOLFGANG","residence":"DE","sequence":3},{"name":"SCHABINGER BIRGIT","residence":"DE","sequence":4},{"name":"ALONSO JOSEBA","residence":"DE","sequence":5},{"name":"ULMER STEFAN","residence":"DE","sequence":6},{"name":"MAURER FLORIAN","residence":"DE","sequence":7},{"name":"BROETZ JOACHIM","residence":"DE","sequence":8}],"inventor_count":8,"has_inventor":true,"agent":[{"name":"MAYSENHÖLDER, Wilfried","address":"Forschungszentrum Karlsruhe GmbH, Stabsabteilung Innovation, Postfach 36 40, 76021 Karlsruhe","country":"DE","sequence":1}],"agent_count":1,"has_agent":true,"owner":[],"owner_count":0,"owner_all":[],"owner_all_count":0,"has_owner":false,"has_examiner":false,"class_ipcr":[{"symbol":"H01J1/304","version_indicator":"2006-01-01","class_symbol_position":"F","class_value":"I","action_date":"2008-09-12","class_status":"B","class_data_source":"H","generating_office":"EP","sequence":1}],"class_ipcr.first_symbol":"H01J1/304","class_ipcr.later_symbol":[],"class_ipcr.inv_symbol":["H01J1/304"],"class_ipcr.add_symbol":[],"class_ipcr.source":"DOCDB","class_cpc":[{"symbol":"B82Y10/00","version_indicator":"2013-01-01","class_symbol_position":"L","class_value":"I","action_date":"2013-01-01","class_status":"B","class_data_source":"H","generating_office":"EP","sequence":1},{"symbol":"B82Y40/00","version_indicator":"2013-01-01","class_symbol_position":"L","class_value":"I","action_date":"2013-01-01","class_status":"B","class_data_source":"H","generating_office":"EP","sequence":2},{"symbol":"H01J1/304","version_indicator":"2013-01-01","class_symbol_position":"F","class_value":"I","action_date":"2013-01-01","class_status":"B","class_data_source":"H","generating_office":"EP","sequence":3},{"symbol":"H01J37/073","version_indicator":"2013-01-01","class_symbol_position":"L","class_value":"I","action_date":"2013-01-01","class_status":"B","class_data_source":"H","generating_office":"EP","sequence":4},{"symbol":"H01J37/3174","version_indicator":"2013-01-01","class_symbol_position":"L","class_value":"I","action_date":"2013-01-01","class_status":"B","class_data_source":"H","generating_office":"EP","sequence":5},{"symbol":"H01J2201/30469","version_indicator":"2013-01-01","class_symbol_position":"L","class_value":"A","action_date":"2013-01-01","class_status":"B","class_data_source":"H","generating_office":"EP","sequence":6},{"symbol":"H01J2237/0635","version_indicator":"2013-01-01","class_symbol_position":"L","class_value":"A","action_date":"2013-01-01","class_status":"B","class_data_source":"H","generating_office":"EP","sequence":7}],"class_cpc_cset":[],"class_cpc.first_symbol":"H01J1/304","class_cpc.later_symbol":["B82Y10/00","B82Y40/00","H01J37/073","H01J37/3174","H01J2201/30469","H01J2237/0635"],"class_cpc.inv_symbol":["B82Y10/00","B82Y40/00","H01J1/304","H01J37/073","H01J37/3174"],"class_cpc.add_symbol":["H01J2201/30469","H01J2237/0635"],"class_cpc.source":"DOCDB","class_national":[],"class_national.later_symbol":[],"reference_cited":[{"npl":{"num":1,"text":"VILA ET AL.: \"Growth and Field-Emission Properties of Vertically Aligned Cobalt Nanowire Arrays\", NANO LETTERS, vol. 4, no. 3, 17 February 2004 (2004-02-17), XP009102016","npl_type":"s","xp_number":"009102016","external_id":[],"lens_id":[],"sequence":1,"category":["X"],"us_category":[],"cited_phase":"ISR","cited_date":"2008-06-23","rel_claims":[],"srep_office":"EP"}},{"npl":{"num":2,"text":"TOIMIL MOLARES M E ET AL: \"Etched heavy ion tracks in polycarbonate as template for copper nanowires\", NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH, SECTION - B:BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, ELSEVIER, AMSTERDAM, NL, vol. 185, no. 1-4, 1 December 2001 (2001-12-01), pages 192 - 197, XP004326834, ISSN: 0168-583X","npl_type":"s","xp_number":"004326834","external_id":["10.1016/s0168-583x(01)00755-8"],"record_lens_id":"017-948-577-356-989","lens_id":["083-941-127-231-435","017-948-577-356-989"],"sequence":2,"category":["X"],"us_category":[],"cited_phase":"ISR","cited_date":"2008-06-23","rel_claims":[],"srep_office":"EP"}},{"npl":{"num":3,"text":"DMITRI ROUTKEVITCH ET AL: \"Nonlithographic Nano-Wire Arrays: Fabrication, Physics, and Device Applications\", IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES, IEEE SERVICE CENTER, PISACATAWAY, NJ, US, vol. 43, no. 10, 1 October 1996 (1996-10-01), XP011015942, ISSN: 0018-9383","npl_type":"s","xp_number":"011015942","external_id":["10.1109/16.536810"],"record_lens_id":"042-350-314-840-189","lens_id":["110-950-028-185-99X","042-350-314-840-189"],"sequence":3,"category":["X"],"us_category":[],"cited_phase":"ISR","cited_date":"2008-06-23","rel_claims":[],"srep_office":"EP"}},{"npl":{"num":4,"text":"DUBOIS S ET AL: \"EVIDENCE FOR A SHORT DIFFUSION LENGTH IN PERMALLOY FROM THE GIANT MAGNETORESISTANCE OF MULTILAYERED NANOWIRES\", PHYSICAL REVIEW, B. CONDENSED MATTER, AMERICAN INSTITUTE OF PHYSICS. NEW YORK, US, vol. 60, no. 1, PART 01, 1 July 1999 (1999-07-01), pages 477 - 484, XP000832305, ISSN: 0163-1829","npl_type":"s","xp_number":"000832305","external_id":["10.1103/physrevb.60.477"],"record_lens_id":"006-018-388-073-12X","lens_id":["190-058-720-801-538","006-018-388-073-12X"],"sequence":4,"category":["A"],"us_category":[],"cited_phase":"ISR","cited_date":"2008-06-23","rel_claims":[],"srep_office":"EP"}},{"patent":{"num":1,"document_id":{"jurisdiction":"US","doc_number":"2002158342","kind":"A1","date":"2002-10-31","name":"TUOMINEN MARK [US], et al"},"lens_id":"187-031-676-492-353","srep_office":"EP","category":["A"],"us_category":[],"cited_phase":"ISR","cited_date":"2008-06-23","rel_claims":[],"sequence":5}},{"npl":{"num":5,"text":"L. PIRAUX ET AL.: \"Fabrication and properties of organic and metal nanocylinders in nanoporous membranes\", JOURNAL OF MATERIALS RESEARCH, vol. 14, no. 7, July 1999 (1999-07-01), pages 3042 - 3050, XP009102034","npl_type":"s","xp_number":"009102034","external_id":["10.1557/jmr.1999.0408"],"record_lens_id":"133-411-662-356-882","lens_id":["140-415-873-864-301","133-411-662-356-882"],"sequence":6,"category":["A"],"us_category":[],"cited_phase":"ISR","cited_date":"2008-06-23","rel_claims":[],"srep_office":"EP"}},{"npl":{"num":6,"text":"PIRAUX L ET AL: \"Template synthesis of nanoscale materials using the membrane porosity\", NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH, SECTION - B:BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, ELSEVIER, AMSTERDAM, NL, vol. 131, no. 1-4, 1 August 1997 (1997-08-01), pages 357 - 363, XP004100542, ISSN: 0168-583X","npl_type":"s","xp_number":"004100542","external_id":["10.1016/s0168-583x(97)00363-7"],"record_lens_id":"062-637-319-426-052","lens_id":["141-949-386-731-459","062-637-319-426-052"],"sequence":7,"category":["A"],"us_category":[],"cited_phase":"ISR","cited_date":"2008-06-23","rel_claims":[],"srep_office":"EP"}},{"npl":{"num":7,"text":"DAUGINET-DE PRA L ET AL: \"Fabrication of a new generation of track-etched templates and their use for the synthesis of metallic and organic nanostructures\", NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH, SECTION - B:BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, ELSEVIER, AMSTERDAM, NL, vol. 196, no. 1-2, 1 November 2002 (2002-11-01), pages 81 - 88, XP004391363, ISSN: 0168-583X","npl_type":"s","xp_number":"004391363","external_id":["10.1016/s0168-583x(02)01252-1"],"record_lens_id":"006-951-360-878-688","lens_id":["097-954-864-281-724","006-951-360-878-688"],"sequence":8,"category":["A"],"us_category":[],"cited_phase":"ISR","cited_date":"2008-06-23","rel_claims":[],"srep_office":"EP"}},{"patent":{"num":2,"document_id":{"jurisdiction":"US","doc_number":"2003143398","kind":"A1","date":"2003-07-31","name":"OHKI HIROSHI [JP], et al"},"lens_id":"153-896-543-025-638","srep_office":"EP","category":["A"],"us_category":[],"cited_phase":"ISR","cited_date":"2008-06-23","rel_claims":[],"sequence":9}},{"npl":{"num":8,"text":"ENSINGER ET AL: \"Diameter distributions of metallic nanowires formed by galvanic deposition inside polymer matrix pores\", MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING C, ELSEVIER SCIENCE S.A, CH, vol. 25, no. 5-8, 1 December 2005 (2005-12-01), pages 609 - 613, XP005161138, ISSN: 0928-4931","npl_type":"s","xp_number":"005161138","external_id":["10.1016/j.msec.2005.06.011"],"record_lens_id":"006-072-177-914-15X","lens_id":["116-550-252-400-047","006-072-177-914-15X"],"sequence":10,"category":["A"],"us_category":[],"cited_phase":"ISR","cited_date":"2008-06-23","rel_claims":[],"srep_office":"EP"}},{"npl":{"num":9,"text":"LIU J ET AL: \"Electrochemical fabrication of single-crystalline and polycrystalline Au nanowires: the influence of deposition parameters; Electrochemical fabrication of single-crystalline and polycrystalline Au nanowires: the influence of deposition parameters\", NANOTECHNOLOGY, IOP, BRISTOL, GB, vol. 17, no. 8, 28 April 2006 (2006-04-28), pages 1922 - 1926, XP020104660, ISSN: 0957-4484","npl_type":"s","xp_number":"020104660","external_id":["10.1088/0957-4484/17/8/020"],"record_lens_id":"077-316-972-821-327","lens_id":["120-476-053-467-486","077-316-972-821-327"],"sequence":11,"category":["A"],"us_category":[],"cited_phase":"ISR","cited_date":"2008-06-23","rel_claims":[],"srep_office":"EP"}}],"reference_cited.source":"DOCDB","reference_cited.patent_count":2,"cites_patent":true,"reference_cited.npl_count":9,"reference_cited.npl_resolved_count":8,"cites_npl":true,"cites_resolved_npl":true,"cited_by":{"patent_count":1,"patent":[{"lens_id":"073-187-474-979-304","document_id":{"jurisdiction":"CN","doc_number":"104617307","kind":"A"}}]},"cited_by_patent":true,"family":{"simple":{"size":5,"id":221468163,"member":[{"lens_id":"048-530-605-289-370","document_id":{"jurisdiction":"DE","doc_number":"102007010297","kind":"A1","date":"2008-09-04"}},{"lens_id":"153-443-223-478-863","document_id":{"jurisdiction":"EP","doc_number":"2130211","kind":"A1","date":"2009-12-09"}},{"lens_id":"089-191-581-742-444","document_id":{"jurisdiction":"EP","doc_number":"2130211","kind":"B1","date":"2011-08-17"}},{"lens_id":"098-145-827-597-785","document_id":{"jurisdiction":"WO","doc_number":"2008107084","kind":"A1","date":"2008-09-12"}},{"lens_id":"130-923-141-233-545","document_id":{"jurisdiction":"AT","doc_number":"E521079","kind":"T1","date":"2011-09-15"}}]},"extended":{"size":5,"id":220389850,"member":[{"lens_id":"048-530-605-289-370","document_id":{"jurisdiction":"DE","doc_number":"102007010297","kind":"A1","date":"2008-09-04"}},{"lens_id":"153-443-223-478-863","document_id":{"jurisdiction":"EP","doc_number":"2130211","kind":"A1","date":"2009-12-09"}},{"lens_id":"089-191-581-742-444","document_id":{"jurisdiction":"EP","doc_number":"2130211","kind":"B1","date":"2011-08-17"}},{"lens_id":"098-145-827-597-785","document_id":{"jurisdiction":"WO","doc_number":"2008107084","kind":"A1","date":"2008-09-12"}},{"lens_id":"130-923-141-233-545","document_id":{"jurisdiction":"AT","doc_number":"E521079","kind":"T1","date":"2011-09-15"}}]}},"has_sequence":false,"legal_status":{"ipr_type":"patent for invention","granted":false,"earliest_filing_date":"2008-02-23","has_disclaimer":false,"patent_status":"PENDING","publication_count":1,"has_spc":false,"has_grant_event":false,"has_entry_into_national_phase":true},"abstract":{"en":[{"text":"A field emission source for electrons as a field emission cathode is described. The field emission cathode is an ensemble of stochastically distributed field emission structures/peaks of freestanding nanowires or nanowire bundles formed thereof made of electrochemically precipitable metal materials. The field emission structures of the field emission cathode are dense at 10 3 to 10 9 cm -2 . The individual emission structure is located at an average distance of 0.1 to 50 μm from the adjacent emission structures, the diameter d of the nanowires is in the range of 10 nm to 10 μm, and the height h of the nanowires is in the range of 1 to 100 μ. The field emission cathode emits via at least one emission peak of the ensemble of field emission structures. If one of the field emission structures fails, another field emission structure assumes the emission, or the other field emission structures assume the emission, providing useful redundancy. The two-dimensional, homogeneous emission via a central region of the emission cathode is adjustable.","lang":"en","source":"WIPO_FULLTEXT","data_format":"ORIGINAL"}],"fr":[{"text":"L'invention concerne une source d'émission de champ d'électrons conçue en tant que cathode d'émission de champ. La cathode d'émission de champ est un ensemble de structures d'émission de champ/pointes réparties de façon stochastique, constituées de nanofils libres ou de faisceaux composés de ces nanofils, réalisés en matériaux métalliques pouvant être déposés de façon électrochimique. Les structures d'émission de champ de la cathode d'émission de champ sont présentes à une densité de 10 3 à 10 9 cm -2 . La structure d'émission individuelle présente un écart de l'ordre de 0,1 à 50 μm par rapport aux structures d'émission adjacentes, le diamètre d des nanofils est de 10 nm à 10 μm et la hauteur h des nanofils est de 1 à 100 μm. La cathode d'émission de champ émet au moyen d'au moins une pointe d'émission de l'ensemble de structures d'émission de champ. En cas de défaillance d'une structure d'émission de champ, une autre structure d'émission de champ se charge de l'émission ou les autres structures d'émission de champ se chargent de l'émission, de manière à conserver une redondance utile. L'émission plate homogène peut être réglée sur une zone centrale de la cathode d'émission de champ.","lang":"fr","source":"WIPO_FULLTEXT","data_format":"ORIGINAL"}],"de":[{"text":"Es wird eine Feldemissionsquelle für Elektronen als Feldemissionskathode vorgestellt. Die Feldemissionskathode ist ein Ensemble stochastisch verteilter Feldemissionsstrukturen/Spitzen aus frei stehenden Nanodrähten oder daraus gebildeten Nanodrahtbündeln aus elektrochemisch abscheidbaren, metallischen Materialien. Die Feldemissionsstrukturen der Feldemissionskathode stehen mit 10 3 bis 10 9 cm -2 dicht. Die einzelne Emissionsstruktur hat zu den benachbarten Emissionsstrukturen einen mittleren Abstand im Bereich von 0,1 bis 50 μm, der Durchmesser d der Nanodrähte liegt im Bereich von 10 nm bis 10 μm und die Höhe h der Nanodrähte im Bereich von 1 bis 100 μ. Die Feldemissionskathode emittiert über mindestens eine Emissionsspitze des Ensembles aus Feldemissionsstrukturen. Beim Ausfall einer Feldemissionsstruktur übernimmt eine andere Feldemissionsstruktur die Emission oder die andern Feldemissionsstrukturen übernehmen die Emission, wodurch eine nützliche Redundanz besteht. Die flächig homogene Emission über einen zentralen Bereich der Feldemissionskathode ist einstellbar.","lang":"de","source":"WIPO_FULLTEXT","data_format":"ORIGINAL"}]},"abstract_lang":["en","fr","de"],"has_abstract":true,"claim":{"de":[{"text":"Patentansprüche 1. Feldemissionsquelle für Elektronen als Feldemissionskathode, wobei die Elektronenemission aus den freien Spitzen von elektrisch leitenden Nanodrähten, die auf einem elektrisch leitenden Substrat stehen und in einer Polymer-Ionenspur-Membran gewachsen sind, über die einstellbare elektrische Potentialdifferenz zwischen der Feldemissionskathode und einer Anode erfolgt, dadurch gekennzeichnet, dass: die Feldemissionskathode in einer Anlage, in der ein freier E- lektronenstrahl benötigt wird, eingebaut ist und im Betrieb eine stabile Elektronenquelle für Ströme im Bereich vom unteren nA- bis in den μA-Bereich bildet, die Emission durch elektrische Potentialunterschiede zwischen der Feldemissionsquelle und einer Anode steuerbar ist - Feldemission, wobei die Emission durch thermische Energie zumindest vernachlässigbar ist, die Feldemissionskathode ein Ensemble stochastisch verteilter Feldemissionsstrukturen/Spitzen aus frei stehenden Nanodrähten oder daraus gebildeten Nanodrahtbündeln aus elektrochemisch abscheidbaren, metallischen Materialien ist, wobei : die Feldemissionsstrukturen der Feldemissionskathode mit 10 3 bis 10 9 cm \"2 dicht stehen, die einzelne Emissionsstruktur zu den benachbarten Emissions- Strukturen einen mittleren Abstand im Bereich von 0,1 bis 50 μm hat, der Durchmesser d der Nanodrähte im Bereich von 10 nm bis 10 μm und die Höhe h der Nanodrähte im Bereich von 1 bis 100 μ liegen, die Feldemissionskathode über die Fläche des Ensembles aus Feldemissionsstrukturen bei entsprechend eingestelltem Potentialunterschied aus der Spitze mindestens einer Feldemissionsstruktur emittiert und beim Ausfall einer Feldemissionsstruktur selbsttätig eine andere Feldemissionsstruktur die Emission übernimmt oder selbsttätig andere Feldetnissionsstrukturen die Emission übernehmen. 2. Feldemissionskathode nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Feldemissionskathode aus korrosionsbeständigem Material ist oder zumindest mit ihrem exponierten Bereich mit einem solchen überzogen ist. 3. Feldemissionskathode nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass zumindest die Nanodrähte aus magnetischem oder nichtmagnetischem Material sind. 4. Feldemissionskathode nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, dass die Nanodrähte in ihrem Kern und ihrer Länge aus einer Materialart oder wenigstens zwei verschiedenen Materialarten bestehen. 5. Feldemmissionskathode nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, dass das Substrat der Feldemissionskathode, auf dem die Feldemitter stehen, metallisch oder halbleitend, ein- oder mehrschichtig ist.","lang":"de","source":"WIPO_FULLTEXT","data_format":"ORIGINAL"}]},"claim_lang":["de"],"has_claim":true,"description":{"de":{"text":"Feldemissionsquelle für Elektronen als Feldemissionskathode Die Erfindung betrifft eine Feldemissionsquelle für Elektronen als Feldemissionskathode. Die Feldemission erfolgt aus den frei stehenden Spitzen von elektrisch leitenden Nanodrähten, die auf einem elektrisch leitenden Substrat stehen. Die Nanodrähte wurden in einem e- lektrochemischen Herstellungsprozess in einer Polymer-Ionenspur- Membran gezogen, bzw. sind darin gewachsen. Die üblicherweise verwendeten Elektronenquellen bestehen aus einer einzelnen Feldemissionsspitze - meist aus Wolfram - oder Rastertunnelmikroskop-Spitze. Im Falle eines Versagens dieser einzelnen Spitze muss diese Elektronenquelle unter erheblich technischem und zeitlichem Aufwand ausgetauscht werden, weil die Einsatztemperatur und das Einsatzvakuum dazu aufgegeben werden muss . Feldemitter mit kleinem Krümmungsradius, also Spitzen, können aus einer Vielzahl von Materialien hergestellt werden. Viel versprechende Experimente und erste Anwendungen wurden bereits mit Ensembles aus Kohlenstoff-Nanoröhren, KNR, erzielt. Dabei wird unter Ensemble eine stochastisch verteilte Emitteranordnung verstanden, im Gegensatz zu einem Array, das aus regelmäßig, hexagonal oder kubisch, angeordneten Emittern besteht. Konische, metallische Feldemitteranordnungen, Ar- rays, sind kommerziell von der Spindt Company erhältlich. Die Niedrigleistung und Leichtgewichtigkeit von Spindt-Kathoden sind ideal für Raumfahrtanwendungen, die Elektronenemission verlangen, geeignet, weil die Robustheit und Wirksamkeit der Baugruppen die Fähigkeit bereitstellt, Ströme von nA bis in den Zehn-mA-Bereich pro Spitze zu emittieren. Gruppiert in Anordnungen von einer Einzelspitze bis zu Millionen an Spitzen pro QuadratZentimeter, stellen Spindt-Kathoden einen Mechanismus zum Emittieren gesteuerter Ströme gut über die 1 A- Schranke von einem Kleinleistungs- , Kaltkathoden-Baugruppe, die nur durch thermische und Raumladungseffekte beschränkt ist. Arrays von orientierten KNRn werden in Flachbildschirmen eingesetzt. Diese so genannten Spindt-Kathoden sind verhältnismäßig teuer und erfordern in der Herstellung aufwendige mehrstufige Prozessschritte. In Nucl. Instr. And Meth.in Phys . Research B 245 (2006) 337 - 341 stellen F. Maurer et al . eine Abhandlung über „Field emission of cop- per nanowires grown in polymer ion.track membranes\" vor. Integrale und lokale Feldemissionsuntersuchungen wurden mit Ensembels unterschiedlich geometrischer Beschaffenheit durchgeführt, die Dichten der Emissionsorte bis zu l,4*10 5 cm \"2 bei 6 V/μm erreichten. Nur 6% der frei stehenden und vertikal ausgerichteten Nanodrähte waren starke Emitter. Nahezu alle Drähte zeigen instabiles Fowler-Nordheim- Verhalten, unterschiedliche ß-Werte für ansteigende und absteigende Spannungszyklen, mit einem mittleren ß-Wert von 245. Das ist um einen Faktor drei höher als von der Emitterform erwartet, möglicherweise wegen dem Einfluss der Spitzengeometrie. Für Nanodrähte von 18 μm Länge und Submikronabstand, agglomerierten mehrere hundert Nanodrähte zu Bündeln, die ebenfalls Feldemission zeigten. Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Feldemissionskathode als Elektronenquelle bereit zu stellen, die es ermöglicht unter bestimmten extremen Temperatur- und Druckbedingungen reproduzierbar E- lektronenströme bis zu einigen Mikroampere zu erzeugen, dabei soll beim Versagen einer Emissionsspitze der Emissionsstrom nicht zusammenbrechen. Die Apparatur, in der eine solche Feldemissionskathode eingebaut ist soll langzeitlich ein stabiles Betriebsverhalten aufweisen. Die Aufgabe wird durch eine Feldemissionskathode als Feldemissions- quelle für Elektronen gemäß den kennzeichnenden Merkmalen des Anspruchs 1 gelöst. Die Feldemissionskathode ist in einer Elektronen- strahlanlage als Ersatz von Kathodenstrahlröhren und Displays beispielsweise eingebaut und bildet im Betrieb eine nichtthermische, nur über elektrische Potentialunterschiede zwischen der Feldemissionskathode und der Anode der Anlage/Apparatur gesteuerte, stabile Elektro- nenquelle für Ströme im Bereich vom unteren nA- bis in den μA- Bereich, kurz unter dem Begriff Feldemission gefasst. Durch die hohe Feldemission, gegeben insbesondere durch die Geometrie der Spitzen der Nanodrähte, spielt die thermische Emission keine Rolle, was besonders günstig für den Betrieb bei tiefen Temperaturen ist. Im Gegensatz zu reinen Einspitzen-Feldemissionskathoden ist die Feldemissionskathode hier ein Ensemble stochastisch verteilter Feldemissionsstrukturen/Spitzen aus frei stehenden, vorzugsweise senkrecht stehenden Nanodrähten aus elektrochemisch abscheidbaren, metallischen Materialien. Die Nanodrähte stehen nach Auflösung der Polymerschicht durch ein geeignetes Lösungsmittel (siehe oben stehendes Literaturzitat aus Nucl. Instr. And Meth. von F. Maurer et al . ) frei exponiert. Bei hinreichender Länge der Nanodrähte, siehe unten, bilden sich Nanodrahtbündel, die jeweils durch Anlehnen/Zuneigen von Nanodrähten aus der Umgebung eines Nanodrahtes an diesen entstehen (siehe schematisierten Ausschnitt der Bündelbildung in Fig 2) . Die Bündel beginnen sich bei einem Aspektverhältnis : Nanodrahthöhe h : Nanodrahtdurchmesser d größer als ca. 50 auszubilden. Die Bündelung erfolgt vorwiegend beim Auflösen der Polymerschablone durch Strömung/Bewegung im Lösungsmittel. Diese Bündelung, Aggregation, Agglomeration von Gruppen von Nanodrähten ist bei der Herstellung der Feldemissionsstrukturen ein qualitativ selbsttätiger Vorgang und kann durch die Nanodrahtgeometrie und Nanodrahtdichte in der Ausgestaltung gesteuert werden. Die Nanodrahtbündelung ist im Mittel symmetrisch und beim Bündelabstand wird von einem mittleren effektiven Abstand gesprochen, wozu der mittlere Abstand zweier Bündelspitzen herangezogen wird (sieh auch Figur 2) . Ein solches Bündel ist mechanisch durch die Stützwirkung der anlehnenden Nanodrähte stabil und weist für die Emission zentral die freie, notwendige Spitze eines einzelnen Nanodrahtes auf, wodurch die vorteilhafte Emissionseigenschaft eines einzelnen Nanodrahtes besteht. Die Feldemissionsstrukturen der Feldemissionskathode stehen im Bereich von 10 3 bis 10 9 Nanodrähten/cm 2 ungeordnet, stochastisch verteilt, dicht. Die einzelne Emissionsstruktur hat zu den benachbarten Emissionsstrukturen einen mittleren Abstand im Bereich von 0,1 bis 50 μm. Der Durchmesser d der Nanodrähte liegt im Bereich von 10 nm bis 10 μm, und die Höhe h der Nanodrähte liegt im Bereich von 1 bis 100 μ. In diesen geometrischen Bereichen liegen dann Na- nodrahtstrukturen vor, die mechanisch stabil gehalten werden können und jeweils eine frei Spitze für die einwandfreie Steuerung der E- lektronenemission aufweisen. Eine solche Feldemissionskathode emittiert je nach elektrischer Potentialeinstellung zwischen Feldemissionskathode und Anode aus der Spitze mindestens einer Emissionsstruktur. Durch Wahl der Potentialdifferenz ist die Zahl emittierender Na- nodrahtspitzen bei frei stehenden Nanodrähten mit höher werdender Na- nodrahtdichte im Wesentlichen im Mittel und nicht in der exakten Anzahl einstellbar; bei Nanodrahtbündeln entsprechend der Nanodrahtbün- deldichte . D.h. das Emissionsgebiet der Feldemissionskathode ist nicht notwendigerweise ortsfest. Bei gleichmäßiger Nanodrahtausbil- dung lässt sich zumindest für einen zentralen Flächenbereich der Feldemissionskathode eine homogene Elektronenemission einstellen, die durch die einstellbare Potentialdifferenz in Grenzen steuerbar ist. (Der unvermeidliche Materialabtrag an den Nanodrahtspitzen wird unten erörtert.) Beim Ausfall einer Feldemissionsstruktur übernimmt eine andere Feldemissionsstruktur oder übernehmen die andern Feldemissionsstrukturen die Elektronenemission. Es besteht somit eine Art Redundanz an Emittern, so dass die Elektronenemission in einem solchen Ausfall unterbrechungslos fortgeführt wird. Durch eine solche Struktur der Feldemissionskathode ist eine um ein Vielfaches höhere Betriebs- und Langzeitstabilität gegeben. Eine Anlage/Apparatur, die eine Feldemissionskathode aus einem solchen Ensemble aus Feldemissionsstrukturen eingebaut hat, muss spätestens dann erst geöffnet werden, wenn auch bei kleinen Emissionsströmen (und damit kleine Potentialdifferenzen) kein steuerbarer Elektronenstrom mehr zustande kommt. Das Ausfallrisiko eines solchen Ensembles ist um ein Vielfaches geringer, die Betriebsdauer also um ein Vielfaches länger als bei einer Einzelemissionsspitze, wie bei den herkömmlichen Wolframspitzen beispielsweise. In den Unteransprüche 2 bis 5 werden geeignete Materialeigenschaften einer solchen Feldemissionskathode beschrieben. Zur unproblematischen Handhabung beim Ein- und Ausbau besteht die Feldemissionskathode nach Anspruch 2 aus einem korrosionsbeständigen Metall oder ist zumindest in ihren exponierten Bereichen mit einem solchen überzogen. Im Falle von Edelmetall bedeutet das auch eine leichtere Elektronenemission aus dem Spitzenbereich der Nanodrähte . Für den Betrieb der Feldemissionskathode in einer Umgebung mit Magnetfeld wird das Material für die Nanodrähte so gewählt, dass der E- lektronenstrom im Magnetfeld nicht beeinträchtigt wird. Das wird in Anspruch 3 durch die Aufführung der magnetischen Materialeigenschaft: magnetisch oder nicht, hervorgehoben. Um den Materialabtrag insbesondere an der Spitze eines emittierenden Nanodrahtes zu unterbinden oder wenigstens in Grenzen zu halten, ist es von Fall zu Fall zweckmäßig, den Nanodraht aus verschiedenen, für den Betrieb geeigneten Materialien elektrochemisch aufzubauen (Anspruch 4) , das durch Nacheinanderanwenden entsprechender Elektrolyte einfach erreichbar ist. Die Nanodraktspitze kann so mindestens mit ihrem Emissionsgebiet aus einem harten Metall, Wolfram beispielsweise, bestehen. Auch ist eine mechanische Steifigkeit des Nanodrahtes mit durch Materialwahl einstellbar. Desgleichen besteht nach Anspruch 5 das Substrat der Nanodrähte aus mindestens einer Metallschicht, was für den elektrischen Übergang vom Substrat und deren mechanischer Verankerung von Bedeutung ist (Anspruch 5) , d. h. als mechanischer Träger kann ein elektrisch leitfähiger aber preisgünstigerer Träger wie ein Edelmetall herangezogen werden. Gegenüber den herkömmlichen Feldemissionskathoden, wie Spind-Kathoden (regelmäßig aufgebaute Feldemissionskathode) , Wolfram-Kathoden (Einzelemissionskathode) , LaB 6 -Kathoden, ergeben sich herausragende Vorteile: in der Material-/Metallwahl für die Nanodrähte besteht im Rahmen elektrochemisch abscheidbarer Materialien Flexibilität und damit ein einfacher Herstellungsprozess; Anpassung an Anforderungen physikalischer Art, wie magnetische Materialeigenschaft, oder chemischer Art, wie Korrosionsresistenz, ist gegeben; in der Einstellung der Nanodrahtgeometrie besteht hinsichtlich des mittleren Nanodrahtabstand , des Nanodrahtdurchmessers d und der Nanodrahtlänge h wegen des Herstellungsprozesses Freiheit; die Elektronenemission aus den Spitzen der Feldemissionskathode erfolgt über elektrische Potentialeinstellung zwischen Kathode und Anode und nicht oder allenfalls untergeordnet durch thermische E- mission. Somit liegt mit der Feldemissionskathode eine stabile E- lektronenquelle vor und unter kryogenen Bedingungen zusätzlich eine kalte Elektronenquelle; es ist mit der Feldemissionskathode eine Elektronenemission mit äußerst geringen elektrischen Strömen in den zuführenden Leitungen gegeben, nA- bis μA-Breich (thermische Kathoden emittieren im A- Bereich) ; der Einsatz in starken Magnetfeldern im Tesla-Bereich wird durch auftretende magnetische Lorentz-Kräfte nicht behindert; aufgrund zahlreicher Elektronenemitter besteht insbesondere eine Redundanz durch die große Spitzenanzahl der Emissionszentren, die im Falle des Versagens eines Emitters die Emission übernehmen/fortführen; es besteht ein geringes Ausfallrisiko der Anlage/Appartur, die mit einer Feldemissionskathode mit einem solchen Emitterensemble bestückt ist im Gegensatz zu einer einzigen Emissionsspitze wie beispielsweise einer Wolframspitze; es ist die Elektronenemission aus einer bis zu vielen Na- nodrahtspitzen einstellbar, insbesondere kann über Potentialsteuerung auch eine flächig homogene Emission aus der Feldemissionskathode eingestellt werden. Im Folgenden wird die Feldemissionskathode in zwei baulichen Varianten vorgestellt und anschließend die Leistungsfähigkeit der Feldemissionskathode in Form eines Ensembles stochatisch, ungeordnet verteilter Nanodrähte vorgestellt. Hierzu werden die folgenden Figuren herangezogen: Figur 1 Ensemble-Ausschnitt aus frei stehenden Nanodrähten aus Kupfer; Figur 2 Nanodrähte zu sternförmigen Bündeln agglomeriert; Figur 3 I-U-Kurven; Figur 4 von der magnetischen Feldstärke unabhängiger Emissionsstrom; Figur 5 Langzeitstabilität des EmissionsStroms . Figur 1 den mit einem Rasterelektronenmikroskop aufgenommen Bildausschnitt der Feldemissionskathode aus frei stehenden Nanodrähten aus Kupfer auf einem Gold/Kupfer-Substrat mit einem mittleren Nanodrah- tabstand ~ 1 μm, mit einer Nanodrahtdichte N « 10 7 cm \"2 . Die Leistungsfähigkeit der Feldemissionskathode, die aus einem Ensemble ungeordnet, stochastisch verteilter Feldemissionsstruktu- ren/Spitzen aus frei stehenden, vorteilhafterweise senkrecht stehenden Nanodrähten aus elektrochemisch abscheidbaren, metallischen Materialien oder daraus gebildeten Nanodrahtbündeln, wie oben erläutert, wird im Folgenden vorgestellt. Zur Erläuterung wird die Fowler- Nordheim-Theorie herangezogen, die einen Zusammenhang zwischen dem angelegten elektrischen Feld und der Stromstärke der Feldemission gibt. Die Stromdichte j der Feldemission berechnet sich in Abhängigkeit des elektrischen Feldes E, des Feldüberhöhungsfaktor ß und der Austrittsarbeit D des Materials in einer ersten Nährung zu A und B sind Konstanten. Die Ergebnisse des Cu-Nanodrahtemsembles als kryogene Elektronenquelle zeigen hervorragende Feldemissionseigenschaften. Die Anforderungen an die Stromstärke der kryogenen Elektronequelle liegt für die Produktion geladener Teilchen, d.h. Ionen, in einer kryogepumpten UHV- Kammer nach dem Electron Beam Ion Source-Prinzip, EBIS, typischerweise im Bereich von einigen nA. Diese Stromstärke wurde von dem En- semble bei Anwesenheit einer Adsorbatschicht um ein Vielfaches übertroffen. Die in Figur 3 gezeigten Daten wurden integral gemessen, d.h. ein externes elektrischres Feld wurde an ein Nanodrahtensemble mit einer Fläche von etwa 0,15 cm 2 bei einer Flächendichte von 10 6 Emitter/cm2 angelegt. Der Verlauf der Stromstärke im Bereich I ist auf Leckströme zurückzuführen. Die Einsatzfeldstärke E 0 der Feldemission für einen Emissionsstrom von ca. 2 nA liegt bei etwa 2,5 V/μm. Dieser Wert stellt einen für Anwendungen günstigen Wert dar, da man die benötigten Ströme bereits bei geringen externen Spannungen erzeugt. Das Risiko von Spannungsüberschlägen wird dadurch vermieden, wodurch die äußerst sensible Elektronik der NachweisSysteme geschützt wird. Typische Werte für E 0 liegen zwischen 3 und 5 V/μm. Bereich II folgt der Theorie nach obiger Gleichung. Im Bereich III ist der Strom limitiert aufgrund von Adsorbaten und/oder Raumladungen. Aus Bereich II wird der Feldüberhöhungsfaktor D zu einem Wert von etwa 2 000 bestimmt, d.h. das extern angelegte elektrische Feld wird an den Spitzen eines Nanodrahtes oder mehrerer Nanodrähte um das 2 000-fache erhöht. Dadurch wird die Feldemission an diesen Emittern um ein Vielfaches begünstigt und es resultiert eine niedrige Einsatzfeldstärke E 0 . Für kernphysikalische Experimente und Hochpräzisionstests der Quantenelektrodynamik werden häufig extreme Arbeitsbedingungen benötigt. Ein Beispiel stellt hierbei die Präzisionsmessung des g-Faktors eines einzelnen, in einer Penning-Falle gespeicherten Teilchens dar. Um die Nachweiseffizienz zu erhöhen, werden diese Experimente bei kryogenen Temperaturen, T ~ 4 K, durchgeführt. Hierbei werden, bedingt durch den Kryopumpeffekt, Vakuumdrücke in der Größenordnung von 10 \"16 mbar erreicht. Das Cu-Nanodrahtensemble wird unter diesen extremen Bedingungen zur Erzeugung eines Elektronenstrahls genutzt, der auf ein geeignetes Target gelenkt wird. So werden die zu spektroskopierenden, geladenen Teilchen erzeugt. Das Nanodrahtensemble zeigte hierbei eine Unabhängigkeit seiner Emissionsstromstärke bei variablen, starken Magnetfeldern B (Figur 4) und zeitliche Stabilität des Emissions- Stroms (Figur 5) . Die hohe Zuverlässigkeit, bedingt durch die hohe Emitterdichte der Nanodrahtensembles, ist von entscheidender Bedeutung für zügiges Experimentieren. Die Verwendung einzelner Feldemissionsspitzen wie zum Beispiel Wolframkathoden stellt ein erhebliches Ausfallrisiko dar. Bei Beschädigung dieser müssen die komplexen Apparaturen teilweise demontiert und wieder aufgebaut werden, und das geht unvermeidlich mit einem erheblichen Zeit- und Kostenfaktor einher. Figur 2 zeigt den mit einem Rasterelektronenmikroskop aufgenommenen Ausschnitt der Feldemissionszentren aus agglomerierten Nanodrähten. Die physikalischen und geometrischen Daten sind im Bild unten eingeblendet. Jede Spitze eines Bündels kann dabei theoretisch als Emissionszentrum auftreten. Eingeblendet in das Bild ist der schematische Aufbau zweier benachbarter Bündel, deren beide spitzebildende Na- nodrähte die Schnittebene bilden und darin den mittleren effektiven Abstand zueinander haben. Diese Geometrie aus agglomerierten Nanodrähten hat gegenüber einzelnen, vertikal frei stehenden Nanodrähten folgende Vorteile: höhere Standfestigkeit, höhere mechanische Stabilität: dadurch können Nanodrähte mit höheren Aspektverhältnissen, höherem D , wegen gegenseitigem Abstützen verwendet werden; Selbstordnung der Bündel : dadurch erhöht sich der mittlere Abstand der Emissionszentren und erreicht etwa deren Höhe, ~ h, weiter werden dadurch elektrostatische Abschirmeffekte reduziert und die Feldemission verbessert ; die Verteilung des mittleren Abstandes ist enger als bei vertikal frei stehenden Einzeldrähten; damit einher geht eine höhere Symmetrie der Anordnungen; durch die Agglomeration mehrerer Nanodrähte zu Bündeln können höhere Emissionsströme transportiert werden.","lang":"de","source":"WIPO_FULLTEXT","data_format":"ORIGINAL"}},"description_lang":["de"],"has_description":true,"has_docdb":true,"has_inpadoc":true,"has_full_text":true,"biblio_lang":"de"},"jurisdiction":"WO","collections":[],"usersTags":[],"lensId":"098-145-827-597-785","publicationKey":"WO_2008_107084_A1","displayKey":"WO 2008/107084 A1","docAssets":{"lensId":"098-145-827-597-785","pdfUrl":"https://www.lens.org/images/patent/WO/2008107084/A1/WO_2008_107084_A1.pdf","images":[{"thumb":"https://s3-us-west-2.amazonaws.com/lens-resource/patent/WO/A1/2008107/2008107084/image/page/10pc/00000001.png","full":"https://s3-us-west-2.amazonaws.com/lens-resource/patent/WO/A1/2008107/2008107084/image/page/full/00000001.png"},{"thumb":"https://s3-us-west-2.amazonaws.com/lens-resource/patent/WO/A1/2008107/2008107084/image/page/10pc/00000002.png","full":"https://s3-us-west-2.amazonaws.com/lens-resource/patent/WO/A1/2008107/2008107084/image/page/full/00000002.png"},{"thumb":"https://s3-us-west-2.amazonaws.com/lens-resource/patent/WO/A1/2008107/2008107084/image/page/10pc/00000003.png","full":"https://s3-us-west-2.amazonaws.com/lens-resource/patent/WO/A1/2008107/2008107084/image/page/full/00000003.png"},{"thumb":"https://s3-us-west-2.amazonaws.com/lens-resource/patent/WO/A1/2008107/2008107084/image/page/10pc/00000004.png","full":"https://s3-us-west-2.amazonaws.com/lens-resource/patent/WO/A1/2008107/2008107084/image/page/full/00000004.png"},{"thumb":"https://s3-us-west-2.amazonaws.com/lens-resource/patent/WO/A1/2008107/2008107084/image/page/10pc/00000005.png","full":"https://s3-us-west-2.amazonaws.com/lens-resource/patent/WO/A1/2008107/2008107084/image/page/full/00000005.png"},{"thumb":"https://s3-us-west-2.amazonaws.com/lens-resource/patent/WO/A1/2008107/2008107084/image/page/10pc/00000006.png","full":"https://s3-us-west-2.amazonaws.com/lens-resource/patent/WO/A1/2008107/2008107084/image/page/full/00000006.png"},{"thumb":"https://s3-us-west-2.amazonaws.com/lens-resource/patent/WO/A1/2008107/2008107084/image/page/10pc/00000007.png","full":"https://s3-us-west-2.amazonaws.com/lens-resource/patent/WO/A1/2008107/2008107084/image/page/full/00000007.png"},{"thumb":"https://s3-us-west-2.amazonaws.com/lens-resource/patent/WO/A1/2008107/2008107084/image/page/10pc/00000008.png","full":"https://s3-us-west-2.amazonaws.com/lens-resource/patent/WO/A1/2008107/2008107084/image/page/full/00000008.png"},{"thumb":"https://s3-us-west-2.amazonaws.com/lens-resource/patent/WO/A1/2008107/2008107084/image/page/10pc/00000009.png","full":"https://s3-us-west-2.amazonaws.com/lens-resource/patent/WO/A1/2008107/2008107084/image/page/full/00000009.png"},{"thumb":"https://s3-us-west-2.amazonaws.com/lens-resource/patent/WO/A1/2008107/2008107084/image/page/10pc/00000010.png","full":"https://s3-us-west-2.amazonaws.com/lens-resource/patent/WO/A1/2008107/2008107084/image/page/full/00000010.png"},{"thumb":"https://s3-us-west-2.amazonaws.com/lens-resource/patent/WO/A1/2008107/2008107084/image/page/10pc/00000011.png","full":"https://s3-us-west-2.amazonaws.com/lens-resource/patent/WO/A1/2008107/2008107084/image/page/full/00000011.png"},{"thumb":"https://s3-us-west-2.amazonaws.com/lens-resource/patent/WO/A1/2008107/2008107084/image/page/10pc/00000012.png","full":"https://s3-us-west-2.amazonaws.com/lens-resource/patent/WO/A1/2008107/2008107084/image/page/full/00000012.png"},{"thumb":"https://s3-us-west-2.amazonaws.com/lens-resource/patent/WO/A1/2008107/2008107084/image/page/10pc/00000013.png","full":"https://s3-us-west-2.amazonaws.com/lens-resource/patent/WO/A1/2008107/2008107084/image/page/full/00000013.png"},{"thumb":"https://s3-us-west-2.amazonaws.com/lens-resource/patent/WO/A1/2008107/2008107084/image/page/10pc/00000014.png","full":"https://s3-us-west-2.amazonaws.com/lens-resource/patent/WO/A1/2008107/2008107084/image/page/full/00000014.png"},{"thumb":"https://s3-us-west-2.amazonaws.com/lens-resource/patent/WO/A1/2008107/2008107084/image/page/10pc/00000015.png","full":"https://s3-us-west-2.amazonaws.com/lens-resource/patent/WO/A1/2008107/2008107084/image/page/full/00000015.png"},{"thumb":"https://s3-us-west-2.amazonaws.com/lens-resource/patent/WO/A1/2008107/2008107084/image/page/10pc/00000016.png","full":"https://s3-us-west-2.amazonaws.com/lens-resource/patent/WO/A1/2008107/2008107084/image/page/full/00000016.png"},{"thumb":"https://s3-us-west-2.amazonaws.com/lens-resource/patent/WO/A1/2008107/2008107084/image/page/10pc/00000017.png","full":"https://s3-us-west-2.amazonaws.com/lens-resource/patent/WO/A1/2008107/2008107084/image/page/full/00000017.png"},{"thumb":"https://s3-us-west-2.amazonaws.com/lens-resource/patent/WO/A1/2008107/2008107084/image/page/10pc/00000018.png","full":"https://s3-us-west-2.amazonaws.com/lens-resource/patent/WO/A1/2008107/2008107084/image/page/full/00000018.png"},{"thumb":"https://s3-us-west-2.amazonaws.com/lens-resource/patent/WO/A1/2008107/2008107084/image/page/10pc/00000019.png","full":"https://s3-us-west-2.amazonaws.com/lens-resource/patent/WO/A1/2008107/2008107084/image/page/full/00000019.png"},{"thumb":"https://s3-us-west-2.amazonaws.com/lens-resource/patent/WO/A1/2008107/2008107084/image/page/10pc/00000020.png","full":"https://s3-us-west-2.amazonaws.com/lens-resource/patent/WO/A1/2008107/2008107084/image/page/full/00000020.png"},{"thumb":"https://s3-us-west-2.amazonaws.com/lens-resource/patent/WO/A1/2008107/2008107084/image/page/10pc/00000021.png","full":"https://s3-us-west-2.amazonaws.com/lens-resource/patent/WO/A1/2008107/2008107084/image/page/full/00000021.png"},{"thumb":"https://s3-us-west-2.amazonaws.com/lens-resource/patent/WO/A1/2008107/2008107084/image/page/10pc/00000022.png","full":"https://s3-us-west-2.amazonaws.com/lens-resource/patent/WO/A1/2008107/2008107084/image/page/full/00000022.png"},{"thumb":"https://s3-us-west-2.amazonaws.com/lens-resource/patent/WO/A1/2008107/2008107084/image/page/10pc/00000023.png","full":"https://s3-us-west-2.amazonaws.com/lens-resource/patent/WO/A1/2008107/2008107084/image/page/full/00000023.png"},{"thumb":"https://s3-us-west-2.amazonaws.com/lens-resource/patent/WO/A1/2008107/2008107084/image/page/10pc/00000024.png","full":"https://s3-us-west-2.amazonaws.com/lens-resource/patent/WO/A1/2008107/2008107084/image/page/full/00000024.png"},{"thumb":"https://s3-us-west-2.amazonaws.com/lens-resource/patent/WO/A1/2008107/2008107084/image/page/10pc/00000025.png","full":"https://s3-us-west-2.amazonaws.com/lens-resource/patent/WO/A1/2008107/2008107084/image/page/full/00000025.png"}],"fallover":false},"countryName":"WIPO (P.C.T.)","inventorModel":{"inventors":[{"name":{"value":"TRAUTMANN CHRISTINA","valueNormalised":"Trautmann Christina"},"inventorship":null},{"name":{"value":"BLAUM KLAUS","valueNormalised":"Blaum Klaus"},"inventorship":null},{"name":{"value":"QUINT WOLFGANG","valueNormalised":"Quint Wolfgang"},"inventorship":null},{"name":{"value":"SCHABINGER BIRGIT","valueNormalised":"Schabinger Birgit"},"inventorship":null},{"name":{"value":"ALONSO JOSEBA","valueNormalised":"Alonso Joseba"},"inventorship":null},{"name":{"value":"ULMER STEFAN","valueNormalised":"Ulmer Stefan"},"inventorship":null},{"name":{"value":"MAURER FLORIAN","valueNormalised":"Maurer Florian"},"inventorship":null},{"name":{"value":"BROETZ JOACHIM","valueNormalised":"Broetz Joachim"},"inventorship":null}],"inventorships":[],"unmatchedInventorships":[],"activeUserHasInventorship":false},"simpleFamilyId":221468163,"citesPatentCount":2,"countrySpec":{"countryName":"WIPO (P.C.T.)","description":"INTERNATIONAL APPLICATION PUBLISHED WITH INTERNATIONAL Search Report","rule":"","docType":"PATENT_APPLICATION"},"pageTitle":"WO 2008/107084 A1 - Field Emission Source For Electrons As A Field Emission Cathode","documentTitle":"Field Emission Source For Electrons As A Field Emission Cathode"},"claims":{"source":"xml_claims","claims":[{"lines":["Patentansprüche"],"number":-1,"annotation":true,"claim":false,"title":false},{"lines":["Feldemissionsquelle für Elektronen als Feldemissionskathode, wobei die Elektronenemission aus den freien Spitzen von elektrisch leitenden Nanodrähten, die auf einem elektrisch leitenden Substrat stehen und in einer Polymer-Ionenspur-Membran gewachsen sind, über die einstellbare elektrische Potentialdifferenz zwischen der Feldemissionskathode und einer Anode erfolgt,"],"number":1,"annotation":false,"claim":true,"title":false},{"lines":["dadurch gekennzeichnet, dass:"],"number":-1,"annotation":true,"claim":false,"title":false},{"lines":["die Feldemissionskathode in einer Anlage, in der ein freier E- lektronenstrahl benötigt wird, eingebaut ist und im Betrieb eine stabile Elektronenquelle für Ströme im Bereich vom unteren nA- bis in den μA-Bereich bildet,"],"number":-1,"annotation":true,"claim":false,"title":false},{"lines":["die Emission durch elektrische Potentialunterschiede zwischen der Feldemissionsquelle und einer Anode steuerbar ist - Feldemission, wobei die Emission durch thermische Energie zumindest vernachlässigbar ist,"],"number":-1,"annotation":true,"claim":false,"title":false},{"lines":["die Feldemissionskathode ein Ensemble stochastisch verteilter Feldemissionsstrukturen/Spitzen aus frei stehenden Nanodrähten oder daraus gebildeten Nanodrahtbündeln aus elektrochemisch abscheidbaren, metallischen Materialien ist, wobei : die Feldemissionsstrukturen der Feldemissionskathode mit 103 bis 109 cm\"2 dicht stehen,"],"number":-1,"annotation":true,"claim":false,"title":false},{"lines":["die einzelne Emissionsstruktur zu den benachbarten Emissions-"],"number":-1,"annotation":true,"claim":false,"title":false},{"lines":["Strukturen einen mittleren Abstand im Bereich von 0,1 bis 50 μm hat, der Durchmesser d der Nanodrähte im Bereich von 10 nm bis 10 μm und die Höhe h der Nanodrähte im Bereich von 1 bis 100 μ liegen, \n\n die Feldemissionskathode über die Fläche des Ensembles aus Feldemissionsstrukturen bei entsprechend eingestelltem Potentialunterschied aus der Spitze mindestens einer Feldemissionsstruktur emittiert und beim Ausfall einer Feldemissionsstruktur selbsttätig eine andere Feldemissionsstruktur die Emission übernimmt oder selbsttätig andere Feldetnissionsstrukturen die Emission übernehmen."],"number":-1,"annotation":true,"claim":false,"title":false},{"lines":["Feldemissionskathode nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Feldemissionskathode aus korrosionsbeständigem Material ist oder zumindest mit ihrem exponierten Bereich mit einem solchen überzogen ist."],"number":2,"annotation":false,"claim":true,"title":false},{"lines":["Feldemissionskathode nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass zumindest die Nanodrähte aus magnetischem oder nichtmagnetischem Material sind."],"number":3,"annotation":false,"claim":true,"title":false},{"lines":["Feldemissionskathode nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, dass die Nanodrähte in ihrem Kern und ihrer Länge aus einer Materialart oder wenigstens zwei verschiedenen Materialarten bestehen."],"number":4,"annotation":false,"claim":true,"title":false},{"lines":["Feldemmissionskathode nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, dass das Substrat der Feldemissionskathode, auf dem die Feldemitter stehen, metallisch oder halbleitend, ein- oder mehrschichtig ist."],"number":5,"annotation":false,"claim":true,"title":false}]}},"filters":{"npl":[],"notNpl":[],"applicant":[],"notApplicant":[],"inventor":[],"notInventor":[],"owner":[],"notOwner":[],"tags":[],"dates":[],"types":[],"notTypes":[],"j":[],"notJ":[],"fj":[],"notFj":[],"classIpcr":[],"notClassIpcr":[],"classNat":[],"notClassNat":[],"classCpc":[],"notClassCpc":[],"so":[],"notSo":[],"sat":[]},"sequenceFilters":{"s":"SEQIDNO","d":"ASCENDING","p":0,"n":10,"sp":[],"si":[],"len":[],"t":[],"loc":[]}}